品質への取り組み

品質への取り組み

品質方針(スローガン:顧客満足第一に徹する)

当社は、顧客ニーズに適合した半導体製品を提供し、社会に貢献することが最重要課題であると認識し、製品の品質維持・向上に努める。
1.当社の事業活動と品質マネジメントシステムを適切に融合させ、全員参加によりその有効性を継続的に改善する。
2.顧客要求事項及び関連法規制への適合に加え、社会的要求事項を配慮し、安心して使っていただける製品を提供する。
3.顧客ニーズを満たすため購入先の理解を求め、相互に有益な関係を維持しつつ、双方の価値創造能力を高める。
4.品質目標を設定し、PDCAサイクルを確実に回すことにより、その達成を図る。

認証取得状況

フェニテックでは品質に対する外部認証について、ISO9001を取得済みです。また、より厳格なマネジメントを求められる自動車産業品質マネジメントシステムIATF16949を2018年に取得しました。

取得認証名 ISO9001:2015 登録証はこちら
事業所 本社工場/第一工場/鹿児島工場/営業本部京都営業部
登録番号 JQA-1829
初回登録日 1997年8月1日
審査機関 一般財団法人 日本品質保証機構
登録範囲 半導体素子及び、半導体集積回路ウェハーの設計・開発及び製造
有効期限 2024年9月30日
取得認証名 IATF16949:2016 登録証はこちら
事業所 本社工場 第一工場 鹿児島工場
登録番号 JQA-AU0036-2 JQA-AU0036-1 JQA-AU0036-3
初回登録日 2014年12月12日 2004年5月28日 2020年11月20日
審査機関 一般財団法人 日本品質保証機構
登録範囲 半導体素子及び、半導体集積回路の設計・開発及び製造
有効期限 2024年9月30日 2024年9月30日 2024年9月30日

※2022年5月1日の本社機能の移転に伴う事業所名称変更について。登録証の記載変更手続き中であり、認証状況に問題ございません。

品質保証体制

フェニテックには40年以上の半導体製造で蓄積された製品設計・プロセス技術及び製造のノウハウがございます。これらのノウハウを駆使し、高品質な製品を適正な価格と適切な納期でご提供しております。

解析装置一覧
Metaloscope(w/photographic device) 金属顕微鏡(自)
FE SEM 電界放射型電子顕微鏡(自)
STEM 走査透過電子顕微鏡(自)
FIB 集束イオンビーム断面観察装置(自)
Optical Beam Induced Resistance Change OBIRCH解析装置(自)
Photo Emission Microsopy エミッション顕微鏡(自)
TXRF 全反射蛍光X線(自)
ICP-MS ICP質量分析(自)
※ (自)…自社所有

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